线圈测试仪

测量和测定通过的数值，而不将样品线圈系统
由功率MOS半导体自己的脉冲发生机构（专利）
通过检测微电晕预测线圈层缺陷
由存储器卡可存储的测量数据/设定条件

号	项目	标准值	公差
1	脉冲输出电压	-0.1～-6.0kV　0.01kV 单位变动	±0.2kV的小或±20％
2	输出电流	100Amax	-
3	输出脉冲宽度	5分在0.6〜4.0μs	5％以内的每组
4	脉冲输出周期	10ms	±1％以内
5	测试执行速度	10毫秒后的启动命令传递失效输出后，传递或与脉冲输出到停止命令失败在同步结果更新	-
6	输出电压的测量	施加电压，谐振电压两者0.0〜10.0kV	测量分辨率 0.1kV
7	输出电流测量	外加电流，无论是谐振电流0.0〜100A	测量分辨率0.1KV*范围
8	Quality 测量	00～99％（上限和下限合格与否的判断与）	100μ～100H 之间在3％以内±实际波形的相对值
9	当前阶段	±90°的延迟为零60.0°	±0.2°的范围内
10	固有振动周期测量	0.1～7999us（上限和下限合格与否的判断与）	100μ～100H 之间对于实际的波形的值，±0.1％ +1digit
11	电晕量检测（电晕电压）	0.01～6.0kV　0-p（上限合格与否的判断与）	价值观实验和伪电晕发生器计算。无精度保证
12	波形监视器	外部数字示波器波形输出。电压转换*V/kV　输出电阻：50Ω	DC20MHz　1/1000 通过一个标准的衰减器的波形匹配方法。
13	外部控制I/F	继电器输出，USB	-
14	记忆I/F	多媒体卡	-
15	动力	AC100～220V±10％内　50,60Hz	70VA内
16	重量	的主体：8.0kg	附件：测试同轴电缆/电源电缆/控制台
17	大小	370×150×350	-

※※有改变产品规格，恕不另行通知的情况下